SEM (Scanning electron microsopce) 분석

-전자 현미경으로 불리우며 OM보다 백배 이상 확대가 가능한 고기능 현미경이다

-SEM의 경우는 진공의 챔버 안의 기기에서 전자를 방출하고 전자가 시편에 충돌 후 회절(튀어나옴) 되는 전자를 스캔해 컴퓨터 이미지로 만드는 구조를 사용하고 있다. 



-SEM은 여러 구조로 되어 있지만 간략하게 주로 전자총 (electron gun), 시편, 충돌 후 튀어 나오는 전자의 스캐너시스템으로 이루어져있다. 


[SEM의 장비 모식도]




[출처]

-메탈캠퍼스, 'OM, SEM 현미경 기본 분석 정의와 기본 원리'



※ 무단 전재 및 재배포 금지.

※ 본 콘텐츠의 저작권은 리오브에 있으며, 이를 무단 이용하는 경우 저작권법 등에 따라 법적 책임을 질 수 있습니다.

※ 인용 시 리오브 출처를 밝혀 주시기 바랍니다.











※ 무단 전재 및 재배포 금지.

※ 본 콘텐츠의 저작권은 리오브에 있으며, 이를 무단 이용하는 경우 저작권법 등에 따라 법적 책임을 질 수 있습니다.

※ 인용 시 리오브 출처를 밝혀 주시기 바랍니다.

REOB

REOB는 활발한 지식 교류를 통해 기술의 공유, 
연구개발 및 사업화를 추진하고 있습니다.

REOB

REOB는 활발한 지식 교류를 통해 기술의 공유, 연구개발 및 사업화를 추진하고 있습니다. REOB가 제공하는 플랫폼은 개인이나 조직의 뛰어난 아이디어, 특허, 기술을 발굴 및 육성하여 이차전지와 최첨단산업 발전에 기여하고 REOB Platform을 통해 많은 User의 꿈이 현실화 될 것입니다.

CONTACT

주식회사 황성기업|서울시 강남구 봉은사로25길 23, 정선빌딩 4층|대표 김찬희|

사업자등록번호 220-81-18215|통신판매업신고 2022-서울강남-01162|벤처기업 20220518030014|

대표전화 02-6085-8898|문의 info@reob.co.kr


※ REOB의 상표, 상품, 정보, 이미지, 사진, 게시물 등 플랫폼에 게시된 내용을 무단 도용 및 불법 게시 시 

   저작권 침해에 해당하여 법적 책임을 질 수 있습니다. 

※ 일부 상품의 경우 주식회사 황성기업은 통신판매의 당사자가 아닌 통신판매중개자로서 상품, 거래, 상  

   품정보에 대한 책임이 제한 될 수 있으므로, 각 상품 페이지에서 구체적인 내용을 확인하시기 바랍니다.


© REOB. All Rights Reserved.

에스크로이체로 결제하기