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-XRD 분석이란 X-ray를 원하는 시편에 회절시켜 시편의 내부 정보를 그래프로 나타내는 분석법이다. 보통 최종 결과물은 아래의 그림그래프와 같다. X축은 2 Theta로 Y축은 intensity라는 값으로 그래프로 나타내며 여러 상의 고유한 각도에서 peak 값이 나타나 시편 속에 어떠한 phase로 이루어져 있는지 확인할 수 있는 분석 방법이다.
-X-ray는 파장이 0.5~2.5 A인데 이러한 파장 값이 원자 하나의 지름과 척도가 비슷하여 시편의 내부 phase를 detect 하는 데 장점이 있다. 다시 말해 원자 1개의 크기와 파장이 제일 비슷하기 때문에 실제 시편에 닫는 파장을 만드는 Cu 또한 1.54 옹스트롱으로 원자 크기와 비슷한 파장을 가지기 때문에 Cu를 표적으로 사용한다.
[출처]
-메탈캠퍼스, 'XRD (X-ray diffraction) 분석 / 상분석 / 면간 거리 구하기'
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