XRD (X-ray diffraction) 분석 [수정완료]

 -XRD 분석이란 X-ray를 원하는 시편에 회절시켜 시편의 내부 정보를 그래프로 나타내는 분석법이다. 보통 최종 결과물은 아래의 그림그래프와 같다. X축은 2 Theta로 Y축은 intensity라는 값으로 그래프로 나타내며 여러 상의 고유한 각도에서 peak 값이 나타나 시편 속에 어떠한 phase로 이루어져 있는지 확인할 수 있는 분석 방법이다. 


-X-ray는 파장이 0.5~2.5 A인데 이러한 파장 값이 원자 하나의 지름과 척도가 비슷하여 시편의 내부 phase를 detect 하는 데 장점이 있다. 다시 말해 원자 1개의 크기와 파장이 제일 비슷하기 때문에 실제 시편에 닫는 파장을 만드는 Cu 또한 1.54 옹스트롱으로 원자 크기와 비슷한 파장을 가지기 때문에 Cu를 표적으로 사용한다.






[출처]

-메탈캠퍼스, 'XRD (X-ray diffraction) 분석 / 상분석 / 면간 거리 구하기'



※ 무단 전재 및 재배포 금지.

※ 본 콘텐츠의 저작권은 리오브에 있으며, 이를 무단 이용하는 경우 저작권법 등에 따라 법적 책임을 질 수 있습니다.

※ 인용 시 리오브 출처를 밝혀 주시기 바랍니다.



※ 무단 전재 및 재배포 금지.

※ 본 콘텐츠의 저작권은 리오브에 있으며, 이를 무단 이용하는 경우 저작권법 등에 따라 법적 책임을 질 수 있습니다.

※ 인용 시 리오브 출처를 밝혀 주시기 바랍니다.

REOB

REOB는 활발한 지식 교류를 통해 기술과 정보의 공유, 
연구개발 및 사업화를 추진하고 있습니다.

REOB

REOB는 활발한 지식 교류를 통해 기술의 공유, 연구개발 및 사업화를 추진하고 있습니다. REOB가 제공하는 플랫폼은 개인이나 조직의 뛰어난 아이디어, 특허, 기술을 발굴 및 육성하여 이차전지와 최첨단산업 발전에 기여하고 REOB Platform을 통해 많은 User의 꿈이 현실화 될 것입니다.

CONTACT

주식회사 황성기업|서울시 강남구 학동로 161 건일빌딩 4층|대표 김찬희|

사업자등록번호 220-81-18215|통신판매업신고 2022-서울강남-01162|벤처기업 20220518030014|

문의 info@reob.co.kr


※ REOB의 상표, 상품, 정보, 이미지, 사진, 게시물 등 플랫폼에 게시된 내용을 무단 도용 및 불법 게시 시 

   저작권 침해에 해당하여 법적 책임을 질 수 있습니다. 

※ 일부 상품의 경우 주식회사 황성기업은 통신판매의 당사자가 아닌 통신판매중개자로서 상품, 거래, 상  

   품정보에 대한 책임이 제한 될 수 있으므로, 각 상품 페이지에서 구체적인 내용을 확인하시기 바랍니다.


2024 © REOB. All Rights Reserved.