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원자힘현미경 (Atomic Force Microscopy, AFM)
[AFM 장비의 기본적인 원리]
- 원자간의 힘의 작용을 측정하여 시료의 표면을 형상화 하거나 탐침에 힘을 가하여 시료 표면의 원자나 분자배열을 조작하는데 사용되는 현미경이다.
- 원자힘현미경은 캔틸레버라고 불리우는 작은 막대 끝에 달려있는 탐침으로 시료 표면에 근접시켜 탐침과 샘플간에 발생하는 인력, 혹은 척력에 의해 캔틸레버가 휘는 정도를 조사된 레이저 방향의 차이를 검출기(Detector)로 관측하여 표면의 형상 등을 감지하는 장비이다.
- 분해능이라고 불리는 측정 정밀도는 탐침의 두께에 따라 달라지고 원자 수준까지 관측이 가능합니다.
- 원자힘현미경은 시료와 탐침의 접촉 유무에 따라 비접촉모드와 접촉모드로 구분하는데, 접촉모드의 경우 그 특성상 탐침이 시료에 손상을 가할 위험이 있다.
- 분석하는 샘플이 오염된 경우 오염 또한 이미지로 관측되게 되므로 관측 전 샘플의 세척이 중요하다.
출처: https://m.blog.naver.com/00811022/221192570824
https://m.blog.naver.com/trotrex/221655852355
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